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KCI Accredited Journals KCI 등재지
KCI Impact Factor 0.54
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KCI Accredited Journals KCI 등재지
KCI Impact Factor 0.54
Journal of the Microelectronics and Packaging Society 2020;27(4):107-111. Published online: Feb, 17, 2021
DOI : 10.6117/kmeps.2020.27.4.107
최근 고령화 사회가 진행이 되면서 건강과 진단에 대한 많은 관심이 증대되고 있다. 정확한 진단이 가능한 guided surgery를 위한 다양한 바이오 이미징 시스템 분야가 중요하게 대두되면서 정확한 측정과 실시간 확인 등이 가능 한 형광 이미징 시스템이 중요한 분야로 대두되었다. 현재 사용되고 있는 부분은 NIR-I이 주를 이루고 있으나 분해능의 향상 및 깊고 정확하게 형광을 확인하기 위해서 NIR-II 부분의 연구를 많이 진행 중에 있다. 본 논문에서는 NIR-I과 NIRII의 차이점과 광학적인 특성, 그리고 형광영상 시스템의 SBR(signal to background ration)에 대해서 NIR-II의 미(Mie) 산란을 유한요소(FEM)법을 이용하여 확인을 하였으며 최종적으로 Skin phantom을 제작 및 Fluorescence를 측정을 함으 로써 SBR이 NIR-I보다 NIR-II 영역에서 16.2배 더 높은 것을 확인하였다. 형광 이미징 시스템의 SBR 증대는 NIR-I영 역대 보다 NIR-II영역이 효과를 이룰 것으로 확인이 되며 이를 통해 guided surgery나 bio-sensor, 또한 형광을 이용한 전 자부품의 결함을 확인할 수 있는 디바이스 등의 다양한 응용분야에 활용할 수 있을 것으로 예상한다.
Recently, as an aging society progresses, a lot of interest in health and diagnosis is increasing, As the field of various bio-imaging systems for guided surgery capable of accurate diagnosis has emerged as important, a Fluorescence imaging system capable of accurate measurement and real-time confirmation has emerged as an important field. Fluorescence images currently being used are mainly in the NIR-I band, but many studies are in progress in the NIR-II band in order to improve resolution and confirm fluorescence deeply and accurately. In this paper, the difference between NIR-I and NIR-II, optical characteristics, and SBR (signal to background ration) of a fluorescent imaging system, was investigated using the finite element (FEM) method. After confirming, it was confirmed that the SBR was 16.2 times higher in the NIR-II area than in the NIR-I by making the skin phantom and measuring the fluorescence. It is confirmed that the enhancement in SBR of the Fluorescence imaging system is more effective in the NIR-II region than in the NIRI region and expected to be used in application fields such as guided surgery, bio-sensor and also device which can detect the defect of optical devices.
Keywords Fluorescence Imaging, NIR-IImaging, NIR-II Imaging, Mie scattering