2024

Vol.31 No.2

Editorial Office

Review

  • Journal of the Microelectronics and Packaging Society
  • Volume 25(3); 2018
  • Article

Review

Journal of the Microelectronics and Packaging Society 2018;25(3):49-53. Published online: Nov, 20, 2018

Durability of Nano-/micro- Pt Line Patterns Formed on Flexible Substrate

  • Tae Wan Park, Young Joong Choi, Woon Ik Park†
    Electronic Convergence Materials Division, Korea Institute of Ceramic Engineering & Technology, Jinju 52851, Korea
Corresponding author E-mail: thane0428@gmail.com
Abstract

정렬된 미세 패턴을 형성하는 기술은 차세대 전자소자를 제작함에 있어서 기틀이 되는 기반기술이기 때문에, 최근 더욱 미세한 패턴을 구현하기 위하여 많은 노력들이 이루어지고 있다. 그 중, 본 연구에서는 패터닝 공정에 있어서 비용이 저렴하고 단시간 내에 고해상도 미세패턴의 형성이 가능한 장점을 갖는 나노 패턴전사 프린팅 공정을 이용하였다. 투명하고 유연한 기판 위에 250 nm, 500 nm, 그리고 1 μm의 선폭을 갖는 Pt 금속 라인 패턴을 성공적으로 형성하였으며, 벤딩기기를 사용하여 500회 벤딩평가 후 패턴의 파괴가 일어나는지에 대한 내구성을 평가하였고, 전자현미경을 통하여 분석하였다. 벤딩 전과 후의 패턴에 대한 손상 여부에 대하여 확인한 결과, 다양한 선폭의 금속 라인 패턴이 초기 상태와 변함없이 형상을 유지할 뿐만 아니라, 패턴주기 또한 안정적으로 유지됨을 확인할 수 있었다. 이러한 결과를 볼 때, 나노 패턴 전사 프린팅 공정은 다양한 금속 패턴을 형성하는데 매우 유용하다고 판단되며, 향후 차세대 유연 전자소자 또는 배선 및 인터커넥션 기술로 응용이 가능할 것으로 기대된다.
Since various methods to form well-aligned nano-/micro- patterns are underlying technologies to fabricate next generation wearable electronic devices, many efforts have been made to realize finer patterns in recent years. Among lots of patterning methods, the present invention includes a nano-transfer printing (n-TP) process which is advantageous in that a processing cost is low and high-resolution patterns can be formed within a short processing time. We successfully achieved pattern formation of highly ordered Pt lines with line-width of 250 nm, 500 nm, and 1 μm on transparent and flexible substrates. In addition, we analyzed the durability of the patterns, showing excellent stability of line-shape even after a physical and repeated bending test of 500 times using a bending machine. As a result, it is expected that a n-TP process is very useful for forming various metal patterns, and it is also expected to be applied to wiring and interconnection technology of next generation flexible electronic devices.

Keywords Metal line pattern, Nano-transfer printing, Bending test, Durability.